Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras. reveia [Internet]. 29 de abril de 2014 [citado 7 de noviembre de 2026];(1):61-7. Disponible en: https://ojs35-pruebas.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578