[1]
H. P. Quiroz Gaitán, S. M. López Ospina, J. A. Calderón Cómbita, and A. Dussán Cuenca, Trans., “Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras”, reveia, no. 1, pp. 61–67, Apr. 2014, Accessed: Nov. 07, 2026. Available: https://ojs35-pruebas.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578