Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras (H. P. Quiroz Gaitán, S. M. López Ospina, J. A. Calderón Cómbita, & A. Dussán Cuenca, Trans.). (2014). Revista EIA, 1, 61-67. https://ojs35-pruebas.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578